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當前位置：

儀器(qì)儀表

公司作(zuò)為(wèi)測試測量行(xíng)業(yè)&&←的(de)綜合服務商，與國(guó)內(nèi)外(wài)衆多(duō)專σ♣業(yè)品牌均有(yǒu)緊密合作(zu→★γ♦ò)，有(yǒu)著(zhe)高(gāo)效的(de)供應™δ服務體(tǐ)系，旨在為(wèi)客戶提供專業(yè)高(gāo)效的(d≈λβαe)高(gāo)質服務。

公司客戶涵蓋制(zhì)造、科(kē)研、教育、半導體(tǐ)、能(nén←↕ ×g)源、通(tōng)信等衆多(duō)領域。

測試儀器(qì)

示波器(qì)

數(shù)字萬能(néng)表

功率表

頻(pín)譜分(fēn)析儀

矢量網絡分(fēn)析儀

信号發生(shēng)器(qì)

數(shù)據采集記錄儀

直流電(diàn)源

交流電(diàn)源

電(diàn)器(qì)測試工(gōng₹Ω↔‍)具

電(diàn)器(qì)測試工(gōng)具

測量儀器(qì)

三坐(zuò)标測量機(jī)

影(yǐng)像測量機(jī)

形狀測量機(jī)

硬度試驗機(jī)

測量工(gōng)具

實驗室設備

公司與國(guó)內(nèi)外(wài)光(guāng)機(jī)電"§(diàn)一(yī)體(tǐ)化(huà)專業(yè)企業(yè) ‌合作(zuò)，提供模拟振動、沖擊、跌落、溫度、濕度等力學環境、氣候環境試驗設∞≤±備的(de)一(yī)站(zhàn)式整體(tǐ)解決方案。

實驗室解決方案

公司與國(guó)內(nèi)外(wài)專業(yè)企業(yè)合作(zuò)♥₹，為(wèi)客戶提供檢測儀器(qì)供 ₽γ₽應、實驗室裝修、檢測認證等一(yī)站(zhàn)式解決方案。

EMC屏蔽室

依據标準EN50147-1:1996, GB12190:20>♦↔±06，c級标準
頻(pín)率衰減度
14KHz ≥ 70dB&n™>"bsp;
200KHz ≥ 70dB ↔ε∑
1MHz~18GHz ₩∞≥100dB

電(diàn)波暗(àn)室

标準3米法電(diàn)波暗(àn)室
CISPR22底噪：≤ 10 dB
歸一(yī)化(huà)場(chǎng)地(dì)衰減NSAβδ™‌:≤ 4 dB
場(chǎng)地(dì)電(diàn)壓駐波比SVSWR ：≤ 5.5✔∑Ωφ dB
場(chǎng)地(dì)均勻性FU： ≤ $•6 dB
預測試743電(diàn)波暗(àn)室（非标）

輻射&傳導測試

依據标準/法規CISPR 16、CISPR 13/EN55δ♥φσ013/GB 13837等
傳導測試：接收機(jī)+人(rén)工(gōng)電(di€♠àn)源網絡+EMI測試軟件(jiàn)+電(diàn)源濾波器(qì↑σ≤←)
輻射測試：接收機(jī)+前置放(fàng)大(dà)器(qì)+EMI測試軟件(jγ÷iàn)+對(duì)數(shù)/喇叭天線+電(diàn)波暗(àn☆γ)室

高(gāo)性能(néng)X射線檢測方案

公司引進Waygate Technologi∞™es高(gāo)性能(néng)X射線檢測系統。将高(gāo)分(fēn)辨率的(de)<©♥λ二維X射線技(jì)術(shù)和(hé)三維CT技(jα•βì)術(shù)完美(měi)地(dì)集成于一(yī)套系統。具備如($★σrú)下(xià)獨特特征：

● 擁有(yǒu)出色像素分(fēn)辨率（85 /100μm）的(de)新型平闆檢測• ®♦器(qì)更勝任半導體(tǐ)和(hé)微(wēi)小(xiǎo)電(diàn)子(zǐ)↑"元件(jiàn)檢查
● 180kV的(de)20W高(gāo)功率微(‍♣επwēi)米/20W納米焦點射線管，檢測細節分(fēn)辨率可(kě)達0.5微(w←γēi)米/0.2微(wēi)米
● 易于使用(yòng)：檢測報(bào)告自(zì)動生(shēng)成
● X|act軟件(jiàn)包技(jì)術(shù)能(néng)夠提供基于CA≈∑D文(wén)件(jiàn)導入的(de)微(wēi)米級自(zì)動檢測功能(né≠←σσng)
● 鑽石靶能(néng)夠實現(xiàn)同等影(yǐn£☆αg)像質量水(shuǐ)平下(xià)，數(shù)據截取速度快(kuài)2倍
● CT功能(néng)可(kě)在最快(kuài€γ•‌)10秒(miǎo)內(nèi)完成掃描
● Shadow|Target通(tōng)過減少(shǎo)非必要(yào)劑量來(láiεσ←ε)防止敏感設備受到(dào)輻射損壞
● 光(guāng)學樣品導航圖可(kě)以概覽大(dà)尺寸樣品并快(☆÷kuài)速定位

經過Flash!™濾鏡優化(huà)過後，實時(shí)CAD數(shù)®‍¶據匹配下(xià)的(de)BGA錫球開(kāi)路(lù)影(¥®yǐng)像

U盤線路(lù)闆的(de)三維CT 掃描影(yǐng)像

先進的(de)PlanarCT 評估，沒有(yǒu)重疊特性的&£₽★(de)X射線影(yǐng)像

等離(lí)子(zǐ)清潔儀器(qì)

PIE Scientific專注研發先進的(de)實驗室用(yòng)等ε↔♥ 離(lí)子(zǐ)儀器(qì)，用(yòng)于SEM/TEM樣品清潔、光("←€"guāng)刻膠蝕刻、煤和(hé)有(yǒu)機(jī)物(wù)灰化(h♦'¥'uà)、等離(lí)子(zǐ)體(tǐ)增強沉積、表面處理(lǐ)與活化‍✘(huà)。

遠(yuǎn)程等離(lí)子(zǐ)清洗機(jī)

遠(yuǎn)程等離(lí)子(zǐ)源需安裝在要(yào)被清潔的(de)真空(kōng)腔£♠室上(shàng)，控制(zhì)器(qì)向遠(yuǎn)程離(lí)子σ↑<(zǐ)源提供射頻(pín)能(néng)量。射頻(pín)電(diàn)磁場(chǎng♠φδ™)能(néng)激發等離(lí)子(zǐ)體÷ δ(tǐ)，分(fēn)解輸入氣體(tǐ)而産生(shēng)氧或氫的(de)活性基，活✔≈✘♠性基會(huì)擴散到(dào)下(xi£>à)遊的(de)真空(kōng)腔室，并與其中的(de)污染物(wù)發生(shēng>•δ)化(huà)學反應，反應産物(wù)能(néng)輕易地(dì)被抽走。遠γ₩↓ε(yuǎn)程等離(lí)子(zǐ)清洗機(jī)可(kě)同時(shí)清潔真β♦空(kōng)系統和(hé)樣品。

大(dà)腔室等離(lí)子(zǐ)清潔儀

大(dà)腔室等離(lí)子(zǐ)清潔儀具有(yǒu)直徑160毫米的(d÷↕σ↓e)大(dà)樣品室，可(kě)清潔的(de)最大♦±✔>(dà)樣品寬達150mm。除了(le)科(kē)研實驗室應用(yòng)外(≈‍♦wài)，它還(hái)可(kě)用(yòn★↔g)于較大(dà)量的(de)樣品處理(lǐ)過程。
小(xiǎo)型台式等離(lí)子(zǐ)清潔儀可(kě)以用(yòε'ng)來(lái)清潔納米級樣品、蝕刻光(guāng)刻膠、煤和(hé)有'★¶≈(yǒu)機(jī)物(wù)灰化(huà)、激活聚合物(wù)表面功能(néng)團、 ₽₹★¥獲得(de)親水(shuǐ)或疏水(shuǐ)性，增強粘合強度以及可(kě)印染性、促進醫(yφ£ī)學器(qì)件(jiàn)生(shēng)物(wù)相(xiàng)容性。

SEM & TEM樣品等離(lí)子(zǐ)清↕γ‍潔儀

專為(wèi)去(qù)除SEM &amβ§∑p; TEM樣品的(de)碳氫污染而設計(jì)。特有(yǒu)的(de)雙 ☆γ清洗模式（immersion和(hé)dowγ'nstream）能(néng)夠處理(lǐ)各種不(b ♣♥ù)同的(de)樣品，從(cóng)嚴重污染的↑™(de)電(diàn)子(zǐ)光(guān g)學孔徑光(guāng)闌到(dào)各種脆弱易損樣品¥$，如(rú)石墨烯、碳納米管、類金(jīn)剛石碳膜以及多(duō)孔碳支持膜銅網✔≥λ上(shàng)的(de)TEM樣品。石英樣品托闆上(shàng)的(de)孔洞π✘可(kě)以安裝标準SEM樣品托。特别設計(jì)的(de)适配器(qì)可(k ☆↑ě)以一(yī)次清潔兩根不(bù)同廠(chǎng)家(jiā)的(de)♥←÷εTEM樣品杆。